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測(cè)試項(xiàng)目分類
  • 材料微觀形貌測(cè)試
    超高分辨球差校正透射電子顯微鏡(Titan TEM 200)高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(Tecnai G2 F30)高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡(JEM 2100F)超高分辨掃描電子顯微鏡(Nova NanoSEM 450)高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(Zeiss Merlin)高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(Hitachi SU8020)高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(Hitachi S-4800 )原子力顯微鏡(Multimode 8)原子力顯微鏡(NT-MDT  Prima)
    超高分辨球差校正透射電子顯微鏡(Titan TEM 200)
    高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(Tecnai G2 F30)
    高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡(JEM 2100F)
    超高分辨掃描電子顯微鏡(Nova NanoSEM 450)
    高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(Zeiss Merlin)
    高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(Hitachi SU8020)
    高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(Hitachi S-4800 )
    原子力顯微鏡(Multimode 8)
    原子力顯微鏡(NT-MDT  Prima)
    高真空掃描探針顯微鏡系統(tǒng)(SPI 3800N)
    原子力顯微鏡(MFP-3D)
    激光共聚焦顯微鏡(FV1200)
  • 材料結(jié)構(gòu)成分分析
    電子背散射衍射分析儀(Zeiss Merlin-EBSD)紫外光電子能譜(ESCALAB 250Xi-UPS)多功能X射線光電子能譜儀(Kratos)俄歇電子能譜儀(ESCALAB 250XI-AES)多功能光電子能譜儀(ESCALAB 250XI)X射線粉末衍射儀(Advance D8)X射線單晶衍射儀(D8 Advance(達(dá)芬奇設(shè)計(jì)))X射線粉末衍射儀(島津?X-7000)電子探針X射線顯微分析儀(JAX-8230)
    電子背散射衍射分析儀(Zeiss Merlin-EBSD)
    紫外光電子能譜(ESCALAB 250Xi-UPS)
    多功能X射線光電子能譜儀(Kratos)
    俄歇電子能譜儀(ESCALAB 250XI-AES)
    多功能光電子能譜儀(ESCALAB 250XI)
    X射線粉末衍射儀(Advance D8)
    X射線單晶衍射儀(D8 Advance(達(dá)芬奇設(shè)計(jì)))
    X射線粉末衍射儀(島津?X-7000)
    電子探針X射線顯微分析儀(JAX-8230)
    X射線熒光光譜儀(XRF-1800)
    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)
  • 材料光學(xué)性能測(cè)試
    熒光壽命測(cè)試儀(Quantaurus—Tau)吡啶紅外(尼高力 380)傅立葉紅外分光光度計(jì)(IRPrestige 21)紫外-可見分光光度計(jì)(Shimadzu UV3600)激光粒度分析儀(Zetasizer Nano ZS90)激光顯微拉曼光譜儀(LabRAM HR Evolution)激光顯微拉曼光譜儀(Renishaw inVia)橢偏儀(VB-400)瞬態(tài)熒光光譜儀(FS920)
    熒光壽命測(cè)試儀(Quantaurus—Tau)
    吡啶紅外(尼高力 380)
    傅立葉紅外分光光度計(jì)(IRPrestige 21)
    紫外-可見分光光度計(jì)(Shimadzu UV3600)
    激光粒度分析儀(Zetasizer Nano ZS90)
    激光顯微拉曼光譜儀(LabRAM HR Evolution)
    激光顯微拉曼光譜儀(Renishaw inVia)
    橢偏儀(VB-400)
    瞬態(tài)熒光光譜儀(FS920)
    原子吸收光譜儀(AAnalyst 800)
    圓二色儀(Chirascan)
    表面等離子體共振(Biacore 3000)
  • 材料磁電性能測(cè)試
    無液氦綜合物性測(cè)量系統(tǒng)(QD Dynacool)電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)霍爾效應(yīng)測(cè)試儀(HMS-5000)精密阻抗分析儀(4294a)太陽能電池性能測(cè)試(Newport PVIV-412V)鐵電測(cè)試系統(tǒng)(RTI-Multiferroic)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)網(wǎng)絡(luò)分析儀(Agilent N5244A)穆斯堡爾譜儀(WISSEL)
    無液氦綜合物性測(cè)量系統(tǒng)(QD Dynacool)
    電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)
    霍爾效應(yīng)測(cè)試儀(HMS-5000)
    精密阻抗分析儀(4294a)
    太陽能電池性能測(cè)試(Newport PVIV-412V)
    鐵電測(cè)試系統(tǒng)(RTI-Multiferroic)
    半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)
    網(wǎng)絡(luò)分析儀(Agilent N5244A)
    穆斯堡爾譜儀(WISSEL)
  • 材料熱學(xué)性能測(cè)試
    激光導(dǎo)熱儀(LFA 457)差示掃描量熱儀(DSC Q2000)熱電性能測(cè)試系統(tǒng)(ZEM-3)熱重分析儀(TG-Q500)熱重差示熱分析儀(HT1600)熱膨脹系統(tǒng)測(cè)試儀(耐馳 DIL402PC)機(jī)械熱分析(TMA402F3)DMA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TA Q800)
    激光導(dǎo)熱儀(LFA 457)
    差示掃描量熱儀(DSC Q2000)
    熱電性能測(cè)試系統(tǒng)(ZEM-3)
    熱重分析儀(TG-Q500)
    熱重差示熱分析儀(HT1600)
    熱膨脹系統(tǒng)測(cè)試儀(耐馳 DIL402PC)
    機(jī)械熱分析(TMA402F3)
    DMA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TA Q800)
  • 材料力學(xué)性能測(cè)試
    原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)(TriboIndenter)納米壓痕劃痕測(cè)試儀(安東帕 NHT2)動(dòng)態(tài)超顯微硬度計(jì)(DUH-201S)電子材料試驗(yàn)機(jī)(INSTRON 3343)數(shù)顯洛氏硬度計(jì)(HVS-1000)數(shù)顯維氏硬度計(jì)(HVS-50)
    原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)(TriboIndenter)
    納米壓痕劃痕測(cè)試儀(安東帕 NHT2)
    動(dòng)態(tài)超顯微硬度計(jì)(DUH-201S)
    電子材料試驗(yàn)機(jī)(INSTRON 3343)
    數(shù)顯洛氏硬度計(jì)(HVS-1000)
    數(shù)顯維氏硬度計(jì)(HVS-50)
  • 材料理化性能測(cè)試
    三重四極桿質(zhì)譜儀(TSQ Quantum Access MAX)元素分析儀?(德國elementar 公司?vario EL cube)液體核磁共振波譜儀(Advance III 400HD)固體核磁波譜儀(VNMRS600)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(安捷倫ICP-OES)全自動(dòng)比表面積及微孔分析儀?(Autosorb iQ2)接觸角測(cè)量儀(OCA20)Zeta電位儀(Nano-ZS90)電化學(xué)工作站(Parstat PMC)
    三重四極桿質(zhì)譜儀(TSQ Quantum Access MAX)
    元素分析儀?(德國elementar 公司?vario EL cube)
    液體核磁共振波譜儀(Advance III 400HD)
    固體核磁波譜儀(VNMRS600)
    電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(安捷倫ICP-OES)
    全自動(dòng)比表面積及微孔分析儀?(Autosorb iQ2)
    接觸角測(cè)量儀(OCA20)
    Zeta電位儀(Nano-ZS90)
    電化學(xué)工作站(Parstat PMC)
    全自動(dòng)物理/化學(xué)吸附分析儀(康塔Quantachrome AutosorbiQ-C)
    四元液相色譜系統(tǒng) (1290 Infinity II)
  • 顯微紅外光譜儀
測(cè)試項(xiàng)目
¥150
¥120
¥450
¥600
¥400
¥150
¥120
*新項(xiàng)目
四元液相色譜系統(tǒng) (1290)
四元液相色譜系統(tǒng) (1290)
鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)
鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)
電子背散射衍射(EBSD-ME)
電子背散射衍射(EBSD-ME)
熱電性能測(cè)試系統(tǒng)(ZEM)
熱電性能測(cè)試系統(tǒng)(ZEM)
熱點(diǎn)測(cè)試
新聞動(dòng)態(tài)
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原位透射電鏡在材料氣液相化學(xué)反應(yīng)研究中的作用
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增材制造中的材料測(cè)試
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